Hanwa Electric Products
阪和电子工业株式会社创始于1966年，上世纪80年代开始自主研发半导体领域所使用的的相关测试设备。
(ESD: Electronic Static Discharge)静电破坏测试机最初研发时只有256pin，现在根据客户的需求甚至可以做到1024pin，满足更高阶的晶圆硅片测试需求。
此外，阪和电子还向解析装置扩展，研发出了具备多功能检测、ESD保护电路回路等机能的TLP（Transmission Line Pulse）测试装置。
随着公司的发展，不光受到日本本土企业的青睐，更是在全球市场上，得到了海外客户的一致认可。
近年来，随着静电可视化需求的扩大，阪和电子的静电可视化设备也已经登上了新的舞台。
静电破坏自动测定装置
HED-G5000
设备名:
静电破坏检测机
说明:
HANWA新一代G5000系列ESD静电破坏检测机隆重登场。 搭载多Pin脚无继电器的GNC模组（最高支持MAX2048pin），完全不受【寄生电容】的影响，实现高精度检测。
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HED-S5000
设备名:
全自动静电放电检测设备
说明:
此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 （满足JEITA / ESDA / JEDEC规格）可用于闩锁测试，并适用脉冲电 流法·电源过电压·ESD脉冲印加法
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HED-N5000
设备名:
多管脚高性能全自动静电放电测试机
说明:
最大可进行8个器件的测试。最大测试管脚数1024Pin 虽然有一定的限制，但是可以复数同时印加 是满足日本、国际规格的高可靠性设备 (满足JEITA/ESDA/JEDEC规格) 可用于闩锁测试，并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD印加法 也可通过DC测试判断pass/fail，以及作为可添加选项，可以利用向量来进行功能测试
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Wafer ESD試験器
HED-W5000
设备名:
全自动 Wafer ESD测试机
说明:
从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数 是满足日本、国际标准的高可靠性设备。（满足JEITA/ESDA/JEDEC规格）
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CDM实验器
HED-C5000
设备名:
（不同电位物质时）接触破坏性检测设备
说明:
此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备 （满足JEITA / ESDA / JEDEC规格）可通过交换放电电路组 件支持日本国内及国际的测试规格 可测量器件的各个端子的容量,测试数据可保存为文本文件形式
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